Микроскопы для микроэлектроники

Преимущества измерительных комплексов АРСТЕК

• Модулированный конфокальный свет. Обеспечивает субмикронное разрешение по вертикали (ось Z) и безупречную повторяемость результатов измерений.
• Высокая производительность. Автоматизированное сканирование и быстрая фокусировка подходят для интеграции в конвейерные линии и чистые помещения.
• Универсальность анализа. Проведение инспекции в светлом и тёмном поле, в поляризованном свете, а также в режиме конфокального контраста.
• Отечественный офис продаж и поддержки. Полная сервисная поддержка, оперативность поставок и адаптация программного обеспечения под конкретные задачи вашего ОТК или лаборатории.

Сферы применения оборудования

1. Контроль полупроводников. Измерение критических размеров (CD), глубины травления канавок и высоты микроконтактов (Bumping).
2. Инспекция печатных плат. Поиск микротрещин, дефектов металлизации сквозных отверстий и качества пайки (SMT).
3. Научные исследования. Проектирование новых топологий микросхем, анализ отказов (Failure Analysis) и материаловедение.

Микроскоп АРСТЕК Безокулярный Стереоскопический

Основным преимуществом является широкое поле обзора без использования окуляров. Вы увидите чёткое и стереоскопическое изображение,  формируемое микроскопом перед Вашими глазами. Не нужно наклонять голову и напрягать зрение, прибор работает с заботой о Вас, с прямой осанкой и взглядом в бесконечность, сохраняя остроту зрения. Встроенная LED подсветка обеспечивает яркое и равномерное освещение для комфортного наблюдения. Три увеличения меняются поворотным устройством, а всего доступны шесть разных увеличений, которые Вы пожелаете ( выбираются при заказе микроскопа АРСТЕК Безокулярный Стереоскопический ). 

Микроскоп АРСТЕК ЭВО 4К 

Этот микроскоп разработан компанией Арстек для того, чтобы у Российских производителей электроники были лучшие по качеству, функциональные и доступные по срокам поставки и цене микроскопы для инспекции готовой продукции, работ по ремонту и диагностике. Кристальная чёткость изображения этого микроскопа с План Апохроматической оптикой и 4К экраном в сочетании с устойчивым поворотно - сдвижным штативом на подшипниках даёт возможность как обзорной инспекции на потоке сборки, так и для диагностики электронных изделий под большим увеличением. В зависимости от увеличения поле зрения АРСТЕК ЭВО 4К  составляет от 95 мм до 2 мм на весь экран. Может комплектоваться штативом с большим предметным столом с механическим точным и быстрым перемещением. 

Микроскоп АРСТЕК  ФОКАЛ 4К

Этот необычный новый микроскоп создан для быстрого осмотра полупроводниковых плат и подобных изделий на предмет дефектов. Он имеет необычайно высокое поле зрения и одновременно глубину фокуса, что позволяет перемещать рукой исследуемый объект влево, вправо, поднимать выше и ниже, тем самым осматривая все поверхности под разным увеличением с постоянным фокусом. Видеть дорожки и места пайки с разных ракурсов, оценивая легко, где, возможно прервался контакт из-за недостатка припоя и др. Вы управляете своей рукой одновременно и положением образца и его увеличением.  Оптика микроскопа позволяет видеть практически под корпусами электронных компонентов.

Микроскоп АРСТЕК РЕЗОЛЮТ

Это сканирующий 2D и 3D оптико-цифровой микроскоп с возможностью исследовать объекты как в макро-, так и в микрорежиме при визуализации как прямо над объектом, так и под углом. Микроскоп Арстек РЕЗОЛЮТ обладает наклонным кодированным штативом (±90°) и кодированным поворотным механизмом столика (±90°), что позволяет исследовать образец под разными углами и сохранять данные о положении образца в момент фотографирования или построения 3D-модели поверхности с дальнейшими 2D и 3D высокоточными измерениями. Увеличение микроскопа составляет до 7500 крат. Минимальное увеличение от 1 крата. Может комплектоваться большим моторизованным предметным столом.

Оптический 3D-профилометр АРСТЕК DM2000

• Технология сканирования: Инновационный модулированный конфокальный свет для прецизионной 3D-профилометрии.


• Назначение: Профессиональный микроскоп для микроэлектроники, оптической инспекции сверхбольших интегральных схем (СБИС) и наноструктур.

Области применения

• Микроэлектроника: контроль топологии кремниевых пластин и дорожек.
• Оптика: проверка плоскостности линз и зеркал.
  Механика: оценка качества кромок, канавок и штампов.
  MEMS: измерение глубины каналов и герметичности слоев.
  Материаловедение: анализ износа, пористости и адгезии покрытий.